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Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR-SE
——用于幾乎所有先進薄膜或產品晶片測量的先進多模計量
FilmTek™ 2000標準桿數-SE光譜橢圓偏振儀/多角度反射儀系統結合了FilmTek技術，為從研發到生產的幾乎所有先進薄膜測量應用提供了業界的精度、精度和多功能性。其標準的小點測量尺寸和模式識別能力使該系統成為表征圖案化薄膜和產品晶片的理想選擇。
更新日期：2024-12-02訪問量：2540廠商性質：經銷商
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Bruker FilmTek CD橢偏儀
——多模態臨界尺寸測量和先進薄膜計量學
FilmTekTM CD光學臨界尺寸系統是我們解決方案，可用于1x nm設計節點及更高級別的全自動化、高通量CD測量和高級薄膜分析。該系統同時提供已知和*未知結構的實時多層堆疊特性和CD測量。
FilmTek CD利用多模測量技術來滿足與開發和生產中最復雜的半導體設計特征相關的挑戰性需求。
更新日期：2024-12-02訪問量：2268廠商性質：經銷商
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Bruker 橢偏儀 FilmTek 2000M TSV
FilmTek™ 2000M TSV計量系統為先進的半導體封裝應用提供了速度和精度組合。該系統為各種封裝工藝和相關結構的高通量測量提供了測量性能和精度，包括表征抗蝕劑厚度、硅通孔（TSV）、銅柱、凸塊和再分布層（RDL）。
更新日期：2024-12-02訪問量：2170廠商性質：經銷商
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Bruker橢偏儀 FilmTek 6000 PAR-SE
FilmTek™ 6000標準桿數-SE先進的多模薄膜計量系統在1x nm設計節點和更高的位置為廣泛的薄膜層提供生產驗證的薄膜厚度、折射率和應力測量監測。該系統能夠在新一代集成電路的生產過程中實現更嚴格的過程控制，提高器件產量，并支持下一代節點技術的開發。
更新日期：2024-12-02訪問量：2205廠商性質：經銷商
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